hardfail

芯片测试中，soft fail和hard fail是什么？

在芯片测试（IC Testing）过程中，Soft Fail（软失效）和Hard Fail（硬失效）是两个关键的概念，用于区分测试中发现的故障类型。它们反映了芯片在功能或电气特性上的不同层次的问题，对良率分析、失效定位、可靠性评估和量产决策具有重要意义。